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安捷倫科技推出全新離子阱質譜儀 (2004-04-08)

發布時間:2007-12-04 作者: 來源:儀器信息網 瀏覽:3009
3月31日,安捷倫科技宣布一款代表安捷倫最高水平的離子阱質譜??LC/MSD Trap XCT預計將于今年7月正式投放市場。安捷倫科技離子阱質譜產品經理Ken Imatani介紹說,此款儀器采用了非線性離子阱質譜技術,靈敏度較其前一代同類產品提高了4倍。該型質譜可廣泛應用于諸如新藥開發、疾病研究過程中的生物標記鑒別等領域。LC/MSD Trap XCT采用了全新的檢測器技術和改進后的生產工藝,對于利血平的檢測靈敏度可達250飛克。
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