日本三井公司下屬的研發子部門Bussan納米科技研究院日前聯合安立公司(anritsu)推出了雙方合作研制的一款用于對高速光器件和元件進行測試測量的新一代色散分析儀，并在OFC2005上展出了首個原型產品。 據了解，該原型是世界上第一個能對色度色散進行實時測量的平臺。色度色散能使光纖傳輸中光脈沖產生扭曲，導致鄰近光脈沖的串擾，增加比特誤碼率。當傳輸速度增加時，色度色散的影響就變得愈發明顯，并與比特速率成平方關系。舉例而言，當比特速率從10Gbps增加到40Gbps的時候，比特誤碼率將增加16倍。因此，解決色度色散問題就成為了高速光傳輸領域的必要研究課題，而研制出描繪這種色度色散的儀器則是解決這一問題的第一步。 為了描述光器件和元件的色度色散，Bussan和安立采用了干涉測量法測量群延遲，在傳統的基于光譜干涉儀的設備中，色度色散的測量一般要花費10秒鐘的時間，而在原型中則采用一種新穎的相位取消（phase cancellation）方法，該方法是基于專門為測量群延遲而研制的自跟蹤干涉測量技術（STINGRAYTM），STINGRAYTM技術采用兩個激光器，一個用于探測，一個用于相位跟蹤，該原型可測量工作波長在1530-1560nm (C-band)的器件，測試激光器波長的掃描速度是一秒掃描30nm帶寬。而跟蹤激光器也同時發射探測光束，將相位波動減少到0.04，是傳統設備的1/30，大大縮短了探測時間。