測量完此類葉片（含裝夾，建基準，出報告）單片大約需要15分鐘。
為此我們為客戶提供了非接觸式白光測量解決方案（CORE-DS）
➣ 首先測量效率高：掃描速度高達100mm/s以該型葉片為例,白光測量僅需6分40秒（含裝夾，建基準，出報告）。
➣ 測頭校正時間短，測頭一次校正，所有的角度都可以使用。
➣ 不存在掃描測頭加速和減速時的不穩定性
➣ 沒有余弦誤差，光點直徑僅為35um，直接測得截面實際值，不存在測球半徑補償。
余弦誤差示意圖：接觸式接觸的是圖中的7點，測頭補償（4）后得到實測點3和4的交點，而白光直接測得就是圖示6點。所以不存在3余弦誤差（cosine error）
➣ 無需輔助定位夾具，所有基準元素均為直接測量，提高了坐標系的精度。
➣ 六點預定位，使掃描更加準確。在掃描葉型前，會預先在葉盆，葉背，前尾圓采6點，然后根據實際的葉型狀況，來調整葉型的掃描路徑（平移、旋轉，甚至縮緊或者擴張）。
➣ 自動根據曲率變化來分布控制點的疏密。（前尾圓加密，盆背稀疏）
➣ 多種類型的報告可供客戶選擇
另外，客戶根據自己的實際需求定制自己喜歡的報告樣式。
➣ 一鍵式測量界面
OPEN_DMIS的Xecute 界面模式是我們專門為操作者而開發的。用戶只需點擊對應被測零件的圖標，程序即可自動運行，全程看不到程序代碼，保障了程序的安全和測量的高效。
為了進一步提高客戶運行程序的效率，我們將輸入工件名稱，爐號，工件號這些在程序運行中必須輸入的信息移動到了運行程序外面，客戶可以把下一片即將測量的號碼預先寫入到一個TXT內，程序運行時自動調取。節省了機器的等待時間，此項為客戶節省約10S。
為客盡可能節省時間，提高效率，是我們不斷追求的目標……
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