東京電子元件（Tokyo Electron Device）將于2006年3月上市可在晶圓階段檢測3軸加速度傳感器的質量及特性的檢測儀。該公司在微機械展上利用展板進行了展示。在微機械展上，丸紅解決方案（Marubeni Solutions）也展示了從今年夏季開始上市的同類檢測儀。 兩公司的檢測儀均可在傳感器晶圓分割成片之前檢測質量。這樣便可省去因封裝不良品而產生的成本。針對封裝有傳感器的150mm或200mm晶圓，在裝置內部施加振動、探測每個元件并調整電氣特性。可以使用于根據壓電電阻檢測因重力作用導致電子束失真的元器件，也可使用于將重力作用作為靜電容量變化來檢測的元器件。 雖然兩公司采用的基本原理相同，不過在施加振動及探測的方法上卻各具特點。在微機械展上，除此次的裝置外，面向MEMS元器件量產的設計和制造基礎裝置也相繼亮相，詳細情況將在《日經微器件》12月刊上介紹。