精工電子納米科技有限公司（SII NanoTechnology Inc. ）宣布，其在美國的子公司與Radiant Detector Technologies, LLC達(dá)成一項資產(chǎn)收購協(xié)議，精工電子納米科技有限公司成功收購Radiant的X射線探測器業(yè)務(wù)。SII NanoTechnology USA 將獲得Radiant公司與X射線探測器業(yè)務(wù)相關(guān)的所有知識產(chǎn)權(quán)、設(shè)備以及人力資源。 精工電子納米科技有限公司希望通過此次收購能夠進(jìn)一步增強在熒光X射線元素分析方面的技術(shù)力量，加快新產(chǎn)品開發(fā)，增強公司產(chǎn)品在世界范圍內(nèi)的競爭力，擴(kuò)展在環(huán)境分析市場的銷售份額。1970年，精工電子納米科技有限公司開始涉足熒光X射線涂層測厚領(lǐng)域，在隨后35年的發(fā)展歷程中，該公司在熒光X射線分析和測厚方面的全球業(yè)務(wù)取得了長足的進(jìn)步，并持有多項技術(shù)專利。