根據(jù)我部標(biāo)準(zhǔn)化工作的總體安排，現(xiàn)將申請立項(xiàng)的《電子封裝用球形二氧化硅微粉電導(dǎo)率的測量方法》等342項(xiàng)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、《紅外熱像儀參數(shù)測試方法》等23項(xiàng)推薦性國家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃項(xiàng)目予以公示（見附件1、2），截止日期為2024年10月20日。如對擬立項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目有不同意見，請?jiān)诠酒陂g填寫《標(biāo)準(zhǔn)立項(xiàng)反饋意見表》（見附件3）并反饋至我司，電子郵件發(fā)送至KJBZ@miit.gov.cn（郵件主題注明：第十二批標(biāo)準(zhǔn)立項(xiàng)公示反饋）。

聯(lián)系電話：010－68205241

地址：北京市西長安街13號(hào) 工業(yè)和信息化部科技司

郵編：100804

附件：1.《電子封裝用球形二氧化硅微粉電導(dǎo)率的測量方法》等342項(xiàng)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)制修訂計(jì)劃（征求意見稿） 

　　　2.《紅外熱像儀參數(shù)測試方法》等23項(xiàng)推薦性國家標(biāo)準(zhǔn)制修訂計(jì)劃（征求意見稿）

　　　3.標(biāo)準(zhǔn)立項(xiàng)反饋意見表

工業(yè)和信息化部科技司

2024年9月13日