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美國熱電發布X系列Ⅱ代ICP-MS (2005-01-27)

發布時間:2007-12-04 作者: 來源:儀器信息網 瀏覽:1378
來自美國熱電集團的消息:該公司將在匈牙利布達佩斯召開的“European Winter Plasma Conference 2005(1月30日~2月3日)”上首次展示該公司X系列Ⅱ代ICP-MS。 XⅡ采用了全新的離子提取系統,從而獲得了四極桿ICP-MS技術更低的檢出限。同時,XⅡ另一個創新點是它的離子光學設計,具有保護離子提取功能。這一設計極大降低了空白背景,再加上熱電公司的第三代離子碰撞池技術,使得該型儀器的干擾消除能力得到了進一步提高。 據熱電集團相關人士介紹:XⅡ的錐形接口既保持了XⅠ在分析方面的優勢傳統,同時又改善對基體效應的容許能力,降低了用戶對儀器維護的要求,開創性的接口設計同離子光學設計使得用戶無需在高真空環境下清洗和更換部件。
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